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高度靈活測試，解決功率器件動態特性分析難題

該系統由泰克高分辨率示波器，光隔離探頭，雙脈沖信號源，高壓電源，功率器件雙脈沖測試驅動板，防護艙，芯片溫控系統，和自動化測試軟件組成。以機柜系統形式交付客戶，可以通過上位機軟件配置測試設備和測試項目，獲取測試結果并生成數據報告。

系統方案旨在幫助解決客戶在功率器件動態特性表征中常見的疑難問題，包括如何設計高速工作的驅動電路，如何適配多種芯片封裝形式，如何選擇和連接探頭進行信號測試，如何優化和抑制測試過程中的噪聲和干擾。幫助客戶在研發設計、失效分析、進廠檢測和試產階段快速評估器件性能，更快應對市場需求改善產品性能。也幫助客戶快速驗證自研驅動電路，加速應用端解決方案落地。

測試系統具備極高的測試靈活性，軟硬件設計方案均由國內團隊開發，可以根據客戶需求定制驅動電路板設計，更改柵極電阻，負載電感等關鍵器件參數，滿足多種客戶測試和應用場景需求。

高效率，高精度

使用泰克公司最新推出的新五系高分辨率示波器和專門用于高壓差分信號測試的光隔離探頭，為三代半導體器件動態特性表征帶來更高帶寬和更高測試精度。泰克新五系示波器可以最高支持8通道同時測量，對于半橋結構雙脈沖測試電路，可以同時對上下管信號進行同步測試。光隔離探頭提供了極高的共模抑制比，可以在上管測試中提供更準確的波形數據。針對系統中高速電流的測試，使用高精度電流傳感器，得到更高的電流測試帶寬和更準確的電流波形。同時系統還提供了動態導通電阻測試功能，可以在高速開關狀態下對器件的動態導通電阻進行評估，幫助客戶更準確的了解器件動態特性。可進行DPT/Qg/Rds(on)測試，單次測試即可完成開關特性和反向恢復特性測試。整個系統采用低回路電感設計（<50nH@2000V系統），測試方案完全符合IEC60747-8/9標準

易用度高

• 符合人體工學的外觀設計，確保使用的舒適性
• 簡潔美觀的軟件設計，操作簡單易學
• 軟硬件開放設計，更高靈活度，可以支持客戶進行驅動板更新設計以應對不同封裝器件測試
• 實時保存測試結果（CSV），可選擇同時保存波形數據，生成報告

開放實驗室

泰克科技先進半導體開放實驗室匯集了泰克與國內方案合作伙伴共同開發的針對功率半導體器件/模塊的參數測試方案和全新的可靠性測試方案，實驗室測試能力覆蓋廣、技術全，從傳統硅基器件到三代半功率器件，高壓到低壓，器件到模塊，一站式、全方位的特性測試和表征。

泰克功率器件開放實驗室具備遠程訪問和線上直播的能力，可以隨時接入查看測試進程，幫助用戶了解實驗操作方法和測試流程。實驗數據嚴格遵守管理流程，一對一提供給指定客戶，同時提供數據解讀分析服務。