在開發(fā)和使用MOSFET、IGBT、二極管及其他大功率器件，需要進行器件級的靜態(tài)參數(shù)測量，如擊穿電壓、通態(tài)電流和電容測量，并不斷優(yōu)化開關(guān)狀態(tài)下的電氣性能。就要使用到半導體功率器件靜態(tài)參數(shù)測試系統(tǒng)2600-PCT。

半導體功率器件靜態(tài)參數(shù)測試系統(tǒng)2600-PCT方案優(yōu)勢：

完整的解決方案，超高性價比

? 可現(xiàn)場升級和重新配置，將PCT轉(zhuǎn)換成可靠性或晶片分類測試儀

? 可配置功率電平：200V至3kV、1A至100A

? 寬動態(tài)范圍：μV至3kV、fA至100A

? 全量程容-電壓 (C-V) 能力：fF至μF

? 支持 2、3和4端器件、高達3kV DC偏移

? 高性能測試夾具支持一系列軟件包類型

? 探頭測試臺接口支持多種常見的探頭類型

半導體功率器件靜態(tài)參數(shù)測試系統(tǒng)2600-PCT特點：

• 完善的解決方案，價格實惠且性能優(yōu)異
• 可現(xiàn)場升級和重新配置，將 PCT 轉(zhuǎn)換成可靠性或晶片分類測試儀
• 可配置功率電平：
• 200V 至 3kV
• 1A 至 100A
• 寬動態(tài)范圍：
• μV 至 3kV
• fA 至 100A
• 全量程容-電壓 (C-V) 能力：
• fF 至 μF
• 支持 2、3 和 4 端器件
• 高達 3kV DC 偏移
• 高性能測試夾具支持一系列軟件包類型
• 探頭測試臺接口支持最常見的探頭類型，包括 HV 同軸三線電纜、SHV 同軸電纜、標準同軸三線電纜等