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可靠性測試通常需要多塊芯片在供電狀態下長時間運行，以HTOL為例，樣品數至少為231塊，測試時長高達1000小時。N23020電壓精度六萬分之一，長時間穩定性40ppm/1000h，電壓紋波噪聲≤2mVrms，可有效保證用戶測試過程可靠性。

芯片研發、流片、大規模生產過程中，通常需要對多組樣品進行可靠性測試，此外，芯片或拼版的漏電流也是其重要測試指標，傳統方案通常采用多臺線性電源配合數采實現，接線麻煩，且占用測試空間。N23020在19英寸3U機箱內集成了高達16個電源通道，支持μA級電流測量，為芯片大規模測試提供了超高集成度的解決方案。

N23020具有快速的動態響應能力，在滿電壓輸出下，負載由10%突變到90%，電壓恢復到原電壓減50mV以內的時間＜100μs，保證電壓或者電流上升波形高速且無過沖，為待測芯片提供穩定的供電。

N23020支持序列編輯功能，用戶可設置輸出電壓、輸出電流以及單步運行時間，可在本地自定義編輯100組電壓電流序列。

支持RS485、LAN、CAN端口，方便用戶組建自動測試系統。